SE800PV激光橢偏儀光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具?？梢詼y量單層薄膜（SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3）和多層疊層膜（SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3）。

SENTECH臺式薄膜探針反射儀FTPadv通過選擇合適的配方，FTPadv反射儀以小于100ms的測量速度、精度小于0.3nm、厚度范圍為50nm-25μm的精度進行厚度測量。

RM1000反射膜厚儀反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單層或層疊膜的厚度、消光系數和折射率指數。在紫外-可見光- 近紅外光譜范圍內，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。

安科瑞泰SE500adv橢偏反射儀SE 500adv結合了橢偏儀和反射儀，除了測量透明膜層厚度的模糊性。它把可測量的厚度擴展到25m，因此SE 500adv擴展了標準激光橢偏儀SE 400adv的能力，特別適用于分析較厚的介質膜、有機材料、光阻、硅和多晶硅薄膜。

安科瑞泰SE400adv激光橢偏儀我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監控單層薄膜的生長和終點檢測，或者做樣品均勻性的自動掃描。

自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實現了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護成本。該光譜橢偏儀的自動掃描具有預定義或用戶定義的模式、允許廣泛的統計特性和數據圖形顯示。

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜 利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結合，可以輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。